簡(jiǎn)要描述:布魯克INVENIO紅外光譜儀 INVENIO - 常規(guī)FTIR以及多光譜研究/開(kāi)發(fā)的日常應(yīng)用FTIR之選,INVENIO 致力于幫助您實(shí)現(xiàn)從日常質(zhì)量控制到高級(jí)研究/開(kāi)發(fā)的創(chuàng)新。不論您是看重生產(chǎn)力、精確度還是需要符合大量規(guī)定,INVENIO都能為您提供*的支持。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子,電氣 |
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布魯克INVENIO紅外光譜儀
創(chuàng)新優(yōu)勢(shì)
全新的光路設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)高信噪比
集成觸屏式電腦,可快速高效地進(jìn)行紅外光譜分析(選配)
提供第二個(gè)樣品室,可并行使用兩種紅外設(shè)置(TransitTM)
全新SoC電子元件能夠帶來(lái)光譜精度,實(shí)現(xiàn)低能耗
布魯克FM,實(shí)現(xiàn)中紅外和遠(yuǎn)紅外一次測(cè)試
MultiTectTM技術(shù)可增添5個(gè)檢測(cè)器,實(shí)現(xiàn)總計(jì)7個(gè)內(nèi)部檢測(cè)器
可從遠(yuǎn)紅外擴(kuò)展至紫外/可見(jiàn)光譜區(qū)以及時(shí)間分辨光譜(TRS)
適應(yīng)需求變化
您的應(yīng)用需求才是一切的標(biāo)準(zhǔn)所在,INVENIO將為您的辛勤勞作提供支持。當(dāng)您的分析需求有所提高時(shí),INVENIO緊隨其后,它將是您完成日常分析任務(wù)所*的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
布魯克INVENIO紅外光譜儀的靈敏度
憑借新穎、高效的光路設(shè)計(jì),以及由*的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng),INVENIO能夠?yàn)槟峁┬阅?,再?xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無(wú)處可遁。
強(qiáng)大的軟件
OPUS作為紅外分析領(lǐng)域大的軟件解決方案之一,能夠簡(jiǎn)化測(cè)量程序,為FTIR初學(xué)者和專(zhuān)家提供支持,提供大量的方法創(chuàng)建成套工具,以及樣品評(píng)估擴(kuò)展功能
時(shí)刻驗(yàn)證
INVENIO具有完整的自動(dòng)PQ(性能驗(yàn)證)和OQ(操作驗(yàn)證)程序,可在受監(jiān)管的制藥實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行儀器驗(yàn)證
體驗(yàn)質(zhì)量
從耐用的外殼,到RockSolidTM干涉儀,每個(gè)元件均采用材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用,能夠?yàn)槟峁╅L(zhǎng)達(dá)多年的長(zhǎng)久可用性。
更多分析
INVENIO幾乎可與任何類(lèi)型的樣品相匹配,僅需幾秒鐘便可切換采樣附件,借助第二個(gè)樣品室,您還能并行采用兩個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)置。
不再受限
隨時(shí)升級(jí),擴(kuò)展光譜范圍
實(shí)現(xiàn)步進(jìn)掃描、快速掃描和交叉掃描時(shí)間分辨光譜TRS
覆蓋從遠(yuǎn)紅外到紫外/可見(jiàn)光的任何細(xì)節(jié)
僅需數(shù)秒即可切換附件、檢測(cè)器和分束器
TGA、顯微鏡或發(fā)射分析等更多外部模塊
拉曼模塊用于增強(qiáng)分析可能性
符合GMP、GLP及21CFRpart11
工作更輕松
為了始終確保測(cè)量參數(shù),所有核心組件均進(jìn)行了電子編碼。此外,可選的集成式觸屏電腦能夠帶來(lái)的直觀式用戶體驗(yàn),以及*的聯(lián)網(wǎng)功能。
INVENIO觸屏式電腦(選件)能夠提供直觀式用戶界面和智能聯(lián)網(wǎng)功能,在實(shí)驗(yàn)室測(cè)量,在辦公室解析,將真正成為可能——無(wú)需纜線或人工傳輸數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)的工作流程大限度地減輕了操作人員的工作量,同時(shí)保持功能不受影響。
從基本的QA/QA,到要求嚴(yán)苛的研究級(jí)應(yīng)用,不論您正在使用標(biāo)準(zhǔn)的ATR裝置、特殊的多角度反射裝置還是成像顯微系統(tǒng)。您都可以信賴INVENIO帶來(lái)的直觀明了的分析和測(cè)量結(jié)果。
PermaSureTM 能夠時(shí)刻監(jiān)測(cè)設(shè)備配置,并進(jìn)行快速自檢,以確保正常運(yùn)行,同時(shí),PerformanceGuardTM 可通過(guò)持續(xù)監(jiān)測(cè)所有機(jī)械和電子元件來(lái)確保儀器的性能。
TransitTM 通道,帶有MIR DTGS檢測(cè)器的獨(dú)立第二樣品室,您將能進(jìn)行兩種實(shí)驗(yàn)設(shè)置,節(jié)約大量時(shí)間。
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