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CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試;

操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn) ;


可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

  • 產(chǎn)品型號(hào):CH-12
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-01-27
  • 訪  問(wèn)  量:1065

產(chǎn)品分類

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CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)/應(yīng)用

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)

大手柄驅(qū)動(dòng),操作舒適,無(wú)回程差設(shè)計(jì)

針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能

晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì),可無(wú)縫升級(jí)

探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。

CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)

 

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試;

操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn) ;

 

可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

 

臺(tái)體規(guī)格:

型號(hào)

CH-8/CH-12

樣品臺(tái)尺寸

8英寸/12英寸

水平旋轉(zhuǎn)

可360度旋轉(zhuǎn),可微調(diào)15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動(dòng)行程

8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移動(dòng)精度

10微米/1微米

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)

針座平臺(tái)

U型針座平臺(tái),多可放置10個(gè)探針座

平臺(tái)升降

可快速升降6mm/可微調(diào)升降25mm

背電極測(cè)試

樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空,4mm插孔可接背電極

外形尺寸

840mm長(zhǎng)*600mm寬*700mm高/950mm長(zhǎng)*700mm寬*700mm高

重量

約100千克/150千克

 

 

 

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