簡要描述:ATLAS SUNTESTXXL+氙氣燈老化儀 基于氙燈濾光技術(shù)進(jìn)行加速耐光性和耐侯測試,SUNTEST氙燈老化試驗(yàn)機(jī)能大大較少材料性能變化的時(shí)間
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,汽車,電氣 |
SUNTEST XXL+被用于檢測材料和產(chǎn)品因日光、溫度和水分而引起的短時(shí)間內(nèi)的特性改變。產(chǎn)品在室外或室內(nèi)發(fā)生的變化,如褪色、變黃或強(qiáng)度損失,可能需要幾個(gè)月或幾年的時(shí)間,而在一臺SUNTEST測試儀器中往往只需要幾周就能進(jìn)行模擬。
優(yōu)點(diǎn):
符合CIE85要求的逼真日光輻射模擬
可選濾鏡,用于模擬透過窗玻璃的陽光等。
用于測試3D樣品的優(yōu)選試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)
易于使用的觸摸屏用戶界面,有13種語言可選
方便快速啟動設(shè)置的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)
帶有開孔方便連接額外的外部傳感器
符合ISO 4892-1標(biāo)準(zhǔn)的黑標(biāo)溫度傳感器(BST)
滿足不同測試需求的自動輻照度控制
尺寸90 x 91 x 172 cm
暴露面積79 x 39 cm (3000 cm2)
3根風(fēng)冷1700瓦氙燈燈管
易于使用的觸摸屏用戶界面,有13種語言可選
直接設(shè)定并控制輻照強(qiáng)度(300-400 nm或340 nm)
直接設(shè)定并控制黑標(biāo)溫度 (BST)或黑板溫度(BPT)
直接設(shè)定并控制箱體溫度 (CHT)
直接控制每一個(gè)測試參數(shù)的容差范圍,已優(yōu)化測試控制
顯示診斷信息
10項(xiàng)可編程測試,每項(xiàng)包含多達(dá)12個(gè)階段
預(yù)置聚合物和涂層標(biāo)準(zhǔn)方便快速調(diào)用
用于34個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或多個(gè)3D樣品的水平3000 cm2暴露面積
符合CIE85要求的逼真日光模擬
配有鋁反射器、燈管接頭和濾鏡插槽的燈盒
帶紅外反射涂層的外濾鏡
輻照控制范圍30-65 W/m2 (300-400 nm); 0,26-0,62 W/m2 (340 nm)
測量并控制CHT:上限70 °C(亮周期)
測量并控制BST或BPT:上限100 °C(亮周期)
符合ISO 4892-1的BST傳感器設(shè)計(jì)
可選擇通過CHT或雙控進(jìn)行溫度控制:同時(shí)控制CHT和BST(BPT)
CHT與BST (BPT)之間的控制溫差
高頻振蕩加濕系統(tǒng)用于濕度控制
樣品噴淋系統(tǒng)帶60升的水箱
傾斜5度的樣品測試平面,方便噴淋水導(dǎo)流
約30 x 25 mm的進(jìn)入端口,連接試驗(yàn)箱內(nèi)部傳感器
以曝曬量、光照時(shí)間或總運(yùn)行時(shí)間來結(jié)束試驗(yàn)
*的自動啟動功能
通過記憶卡或RS 232接口輸出數(shù)據(jù)
存儲工具數(shù)據(jù)的內(nèi)部存儲芯片
通過以太網(wǎng)界面連接網(wǎng)絡(luò)參見可選XenoTouch軟件附件1、2、3(“遙控"、“電郵服務(wù)"、“在線監(jiān)控")
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