簡要描述:QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試 主要測試:電源管理類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等
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品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車,電氣 |
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QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)
常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試 主要測試:電源管理類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等
QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)
型號(hào) | QT-8100 |
產(chǎn)品優(yōu)勢 | 數(shù)模混合IC測試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。主要測試:電源管理類,數(shù)碼消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)放等 |
主要特點(diǎn) | • 懸浮V/I源,四象限 • 由測試盒引出全資源,8site并測 • 數(shù)字速率100Mhz,向量深度8M • 真并測,多路1000V/20A高壓大電流 • 18 bit 高精密采樣 • 20 個(gè)模擬槽位(Max 216通道)/ 8 個(gè)數(shù)字槽位( Max 128通道) • 多通道高精度時(shí)間測量單元,支持ns級(jí)別時(shí)間測量 • 支持RF模組擴(kuò)展 • PCIE 卡,測試效率更高 |
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